X射线荧光光谱分析(第二版)

X射线荧光光谱分析(第二版)
作者: 罗立强,詹秀春,李国会 编著
出版社: 化学工业
原售价: 88.00
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ISBN: 9787122228611

作者简介

罗立强,男,1959年10月生,湖北荆州人,博士,研究员,博士研究生导师,国家地质实验测试中心副主任。1982毕业于长春地质学院岩化系,获工学学士学位;1987在中国地质科学院研究生部获理学硕士学位;1997年在中国科学院上海硅酸盐研究所获工学博士学位;2003-2005年在加拿大McMaster大学从事博士后研究。1997年首批入选国土资源部百名跨世纪科技人才计划。研究领域及研究方向为X射线光谱分析技术应用研究、流体地球化学和生物环境地球化学研究。作为项目负责人承担的国家级项目包括:国家计委重大科学工程项目“中国大陆科学钻探工程”流体地球化学研究;国家自然科学基金“知识工程与无标样X射线光谱分析体系研究”;国家自然科学基金,“神经网络与X射线光谱分析研究”,是国家自然科学基金重大项目课题 “大陆科学钻探孔区地下深部流体与微生物研究”项目负责人。2004年受欧洲X射线光谱分析大会邀请赴意大利作特邀报告。已在国内外公开发表各种论文、著作、译文等70余篇。 担任中国地质学会岩矿测试专业委员会秘书长,北京市地质学会理事,中国地质科学院科学技术委员会委员,国际《X-Ray Spectrometry》杂志副主编,国际《Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry》杂志副主编,《岩矿测试》主编,《光谱学与光谱分析》编委。

内容简介

系统阐述了X射线荧光光谱分析(XRFS)基本原理,介绍了XRFS光谱仪及主要组成部件,特别是X射线激发源和X射线探测器的工作原理,强调了新型X射线激发源和探测器如聚焦毛细管X射线透镜、硅漂移探测器和超导探测器等的研究进展和特征性能。 对开展XRFS分析所需的定性与定量分析方法、元素间基体校正、化学计量学计算等做了较详细的描述,评介了各方法的特点、局限及选用原则。 专门介绍了XRFS分析中的样品制备技术,以使读者对其有深刻认识并能灵活运用。 分析了不同仪器的特性,提供了一定的具有共性的仪器校正方法、日常维护知识和故障判断原则。 介绍了同步辐射X射线荧光与光谱分析技术与应用、微区X射线荧光光谱分析与应用。 综述了XRFS在地质、冶金、材料、考古、生物与环境等领域的研究进展与实际应用。