硅通孔三维集成电路测试与可测性设计 出版时间 2021-10-01T00:00 无线电物理学 7299 作者: 俞洋//方旭//杨智明//彭喜元|责编:王会丽 出版社: 哈尔滨工业大学 原售价: 58.00 折扣价: 42.34 折扣购买: 硅通孔三维集成电路测试与可测性设计 ISBN: 9787560391656 作者简介 内容简介 上一篇:光电信息科学与工程专业实验(普通高等教育十三五规划教材)下一篇:华为HCNA路由与交换学习指南/51CTO学院丛书