光学测量的条纹分析--理论算法与应用

光学测量的条纹分析--理论算法与应用
作者: (墨)塞尔文//(西)基罗加//(墨)帕迪利亚|责编:贺峰涛|译
出版社: 西安交大
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ISBN: 9787560592923

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