光学测量的条纹分析--理论算法与应用 出版时间 2020-10-01T00:00 光学 54921 作者: (墨)塞尔文//(西)基罗加//(墨)帕迪利亚|责编:贺峰涛|译 出版社: 西安交大 原售价: 58.00 折扣价: 41.76 折扣购买: 光学测量的条纹分析--理论算法与应用 ISBN: 9787560592923 作者简介 内容简介 上一篇:现代光学设计方法(第4版)下一篇:拉曼光谱学及其在纳米结构中的应用(下册)——纳米结构的拉曼光谱学研究