X射线粉末衍射技术——测量与分析基础

X射线粉末衍射技术——测量与分析基础
作者: 编者:王春建|
出版社: 化学工业
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ISBN: 9787122457202

作者简介

王春建,1982年出生,山东庆云人,博士,副教授,硕士生导师,主要从事材料表征与分析-X射线多晶衍射技术方向的科学研究和教学工作,现就职于昆明理工大学分析测试研究中心(云南省分析测试中心)。 主持参与国家级、省部级等自然科学基金项目15项,发表学术论文26篇,申报发明专利5项,参与修订X射线衍射领域行业标准1项,参与修订地方标准1项,开展线上/线下X射线衍射技术讲座/培训近50次。 现任英国Malvern Panalytical(马尔文帕纳科)公司X射线联合实验室XRD特邀应用专家、Honarary Scientist,马尔文帕纳科X射线分析仪器用户会常设组织委员会委员,日本RIGAKU(理学)公司中国X射线衍射仪用户协会委员,中国丹东浩元仪器公司特邀培训讲师,《冶金分析》青年编委,《分析仪器》编委,"中国材料与试验标准化委员会-科学试验领域/科学试验创新方法技术/结构形貌创新方法标准化分技术委员会"委员。

内容简介