
出版社: 化学工业
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折扣购买: X射线荧光光谱分析(第三版)
ISBN: 9787122430397
罗立强,国家地质实验测试中心,副主任,教授,博导。1982毕业于长春地质学院岩化系,获工学学士学位;1987在中国地质科学院研究生部获理学硕士学位;1997年在中国科学院上海硅酸盐研究所获工学博士学位;2003-2005年在加拿大McMaster大学从事博士后研究。1997年首批入选国土资源部百名跨世纪科技人才计划。研究领域及研究方向为X射线光谱分析技术应用研究、流体地球化学和生物环境地球化学研究。作为项目负责人承担的项目包括:国家计委重大科学工程项目“中国大陆科学钻探工程”流体地球化学研究;国家自然科学基金“知识工程与无标样X射线光谱分析体系研究”;国家自然科学基金,“神经网络与X射线光谱分析研究”,是国家自然科学基金重大项目课题“大陆科学钻探孔区地下深部流体与微生物研究”项目负责人。2004年受欧洲X射线光谱分析大会邀请赴意大利作特邀报告。已在国内外公开发表各种论文、著作、译文等70余篇。 担任中国地质学会岩矿测试专业委员会秘书长,北京市地质学会理事,中国地质科学院科学技术委员会委员,国际《X-Ray Spectrometry》杂志副主编,国际《Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry》杂志副主编,《岩矿测试》主编,《光谱学与光谱分析》编委。
第三版修订中,重新撰写了绪论,对XRF基本原理和主要特性进行了较大幅度的补充完善;推导了不同计数时间条件下的XRFS检出限计算公式,以弥补无相关计算式可用的不足;同时,本次修订也扩充了对一些新型XRFS装置的介绍篇幅,较详细介绍了对元素形态分析具有重要价值的XAS原理和小型XAS实验室测定装置,推介了μ子X射线光谱分析原理,补充了X射线驻波探测原理及其在硅晶半导体材料分析中的应用,提出了偏振-聚焦-单色-全反射XRFS分析原理构想;此外,本书专门补充一章,用以阐述和强调XRS在解决重大科学问题中的重要支撑作用。