晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例 出版时间 2024-01-01T00:00 晶体学 45730 作者: 马秀良|责编:任辛欣 出版社: 高等教育 原售价: 149.00 折扣价: 113.24 折扣购买: 晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例 ISBN: 9787040610963 作者简介 内容简介 上一篇:无机化学<第五版>同步辅导及习题全解(新版配套高教版)下一篇:晶体位错理论基础(第2卷典藏版)/凝聚态物理学丛书