单板级JTAG测试技术

作者简介

刘治国，1977生，湖南益阳人，硕士。现任职于工业和信息化部电子第五研究所，主要从事元器件检测和试验工作。研究方向：集成电路可靠性评价和电子元器件检测技术。 王承，1976生，江苏扬州人，博士。现任职于中兴通讯股份有限公司，主要从事单板级JTAG测试技术的研发、推广和生产应用工作。研究方向：集成电路测试、模式识别、人工智能和故障诊断等。

内容简介