专利视角下的半导体量检测关键技术 出版时间 2024-09-30T00:00 法学理论 17815 作者: 国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心 出版社: 知识产权 原售价: 99.00 折扣价: 78.48 折扣购买: 专利视角下的半导体量检测关键技术 ISBN: 9787513094962 作者简介 国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心成立于2011年9月,是国家知识产权局专利局直属事业单位,受国家知识产权局专利局的委托承担如下工作:发明专利申请的实质审查;PCT国际申请的国际检索和国际初步审查;承办上级交办的其他事项。 内容简介 一本书详解半导体领域量测与检测等最新技术的专利情况。 上一篇:2018年中国十大宪法事例评析下一篇:中国互联网法院法治发展报告(2017-2019)/中国新技术法治发展报告系列