专利视角下的半导体量检测关键技术

专利视角下的半导体量检测关键技术
作者: 国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心
出版社: 知识产权
原售价: 99.00
折扣价: 78.48
折扣购买: 专利视角下的半导体量检测关键技术
ISBN: 9787513094962

作者简介

国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心成立于2011年9月,是国家知识产权局专利局直属事业单位,受国家知识产权局专利局的委托承担如下工作:发明专利申请的实质审查;PCT国际申请的国际检索和国际初步审查;承办上级交办的其他事项。

内容简介

一本书详解半导体领域量测与检测等最新技术的专利情况。