基于云架构的智能测试系统关键技术及应用

基于云架构的智能测试系统关键技术及应用
作者: 邓士杰//丁超//唐力伟//张英波//苏续军等|责编:张海丽
出版社: 北京理工大学
原售价: 56.00
折扣价: 44.80
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ISBN: 9787568296175

作者简介

邓士杰,1983年10月,工学博士,长期从事自动测试与控制领域的研究工作,发表相关论文30余篇,同时对自动化、嵌入式系统以及人工智能有着浓厚的兴趣,目前供职于陆军工程大学,担任讲师。

内容简介