低渗-致密储层测录井综合评价技术与应用

低渗-致密储层测录井综合评价技术与应用
作者: 编者:胡森清//刘建新//鲁法伟//胡文亮//付焱鑫|责编:韩骑
出版社: 中国地质大学
原售价: 168.00
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ISBN: 9787562550549

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