数字集成电路测试(理论方法与实践)/集成电路科学与技术丛书

作者简介

李华伟，女，1974-，博士，研究员。研究方向为集成电路设计自动化、数字电路测试、智能计算芯片架构，主讲《VLSI测试与可测试性设计》等课程。从教以来，获中国科学院教育教学成果二等奖；发表论文200余篇，出版《数字集成电路设计验证》、《数字系统测试与可测试设计》、《安腾体系结构》等3部著作；主持国家级科研项目8项；获国家技术发明二等奖1项，省部级以上奖励10项；已获授权国家发明专利32项。

内容简介

"本书从数字集成电路测试在数字芯片设计阶段发挥的重要作用出发，系统地介绍了数字电路测试的完整技术体系，内容突出基础理论和关键技术，并以西门子EDA工具Tessent的设计脚本为例，介绍了这些技术在测试综合EDA工具中的使用流程。 ？ 系统性 内容涵盖数字集成电路测试的基本原理和体系架构。 ？ 全面性 全面介绍可测试性设计、测试生成、SoC测试等技术。 ？ 先进性 结合半导体行业发展的趋势，介绍测试技术和测试标准的近期发展。 ？ 实践性 以业界常用的Tessent为例，介绍典型的测试综合流程，同时提供设计案例、EDA脚本、习题解答等配套教学资源。 "